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第三次变革:“四业分离”的IC产业 90年代,随着INTERNET的兴起,IC产业跨入以竞争为导向的高级阶段,竞争由原来的资源竞争、价格竞争转向人才知识竞争、密集资本竞争。以DRAM为中心来扩大设备投资的竞争方式已成为过去。如1990年,美国以Intel为代表,为抗争日本跃居世界半导体榜首之威胁,主动放弃DRAM市场,大搞CPU,对半导体工业作了重大结构调整,又重新夺回了世界半导体霸主。这使人们认识到,越来越庞大的集成电路产业体系并不有利于整个IC产业发展,"分"才能精,"整合"才成优势。于是,IC产业结构向高度化转化成为一种趋势,开始形成了设计业、制造业、封装业、测试业独立成行的面,近年来,IC产业的发展越来越显示出这种结构的优势。如台湾IC业正是由于以中小企业为主,比较好地形成了高度分工的产业结构,故自1996年,受亚洲经济危机的波及,半导体产业出现生产过剩、效益下滑,而IC设计业却获得持续的增长。
市场对于电子元器件的需求量庞大,不仅仅表现在数量上,也表现在类型上,而对于不同类型的电子元器件价格而言存在着明显的差异,比如对于各种各样的芯片价格自然是昂贵的,而对于普通的二管来说价格则比较便宜。
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万用表应具有较大的内阻,小于被测电路电阻的10倍,以免造成较大的测量误差。通常,每个电位计都旋转到中间位置。如果是电视机,信号源应使用标准彩条信号发生器。测试引线或探头应防滑。由于短路,很容易损坏IC。以下方法可以笔滑:取自行车的气门芯,放在手表的尖端,将手表的尖端长到0.5mm左右,这样可以使手表的尖端与被测点保持良好的接触,并能有效打滑。即使它击中相邻点,也不会短路。当一个引脚的实测电压与正常值不匹配时,应根据引脚的电压是否对ic的正常工作和其他引脚电压的相应变化有重要影响进行分析,可以判断ic。
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IC芯片的7种识别方法及相关知识介绍 IC芯片的7种识别方法借助光学显微镜,可以检查组件的外部和内部特征,结构分布,布等,并且可以拍摄感兴趣的信息,补充机械尺寸,并与组件和行业规格进行比较。用于检查元件的内部状态,例如芯片布、引线布和引线框架设计。当组件结构复杂时,需要调整X射线管的角度和电压以及图像的适当对比度和亮度,以获得有效的信息。为了评估组件的内部结构,需要对样品进行切割,嵌入,切割,抛光等。通常通过光学显微镜和扫描电子显微镜分析切片样品的内部结构和材料成分。