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该方法是一种通过检测IC供电线路总电流来判断IC质量的方法。由于大部分IC是直接耦合的,当IC损坏时(如某pn结击穿或开路),会导致后一级饱和和截断,导致总电流发生变化。因此,测量总电流的方法可以判断IC的质量。还可以测量电源路径中电阻的压降,并使用欧姆定律计算总电流值。通常来说,一个常规的IC型号,是由字母+数字+字母组成的。这些字母、数字的背后,代表着不同的温度、参数,以及封装。举个例子,就比如你去买可乐,有瓶装,罐装,玻璃装等各种包装,IC型号后缀的参数不同,信息都是不一样的。
在生产元器件的过程当中,虽然各种各样的电子元器件所使用的材质相同,但是若采用不同的技术和工艺,则生产出来的电子元器件在质量方面存在明显的差异,而且也会导致成本的差异,所以电子元器件价格有所不同。
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回顾集成电路的发展历程,我们可以看到,自发明集成电路至今40多年以来,"从电路集成到系统集成"这句话是对IC产品从小规模集成电路(SSI)到今天特大规模集成电路(ULSI)发展过程的好总结,即整个集成电路产品的发展经历了从传统的板上系统(System-on-board)到片上系统(System-on-a-chip)的过程。在这历史过程中,世界IC产业为适应技术的发展和市场的需求,其产业结构经历了三次变革。
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举个例子:a、采购电阻时看到510Ω ±5% 100mW,表示:阻值:510Ω 精度:±5%功率:100mWb、电路板上有很多电阻,R38表示编号为38的电阻。常见的有贴片电阻、光敏电阻、热敏电阻、碳膜电阻、压敏电阻、湿敏电阻、金属电阻、绕线电阻、水泥电阻等等电容(Capacitor):存储电荷的器件;能够改变电路的工作频率,以及保护电路免受高频噪声干扰。电容:以C来表示,单位F(读法拉/法)