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扫描电子显微镜和能谱分析它具有更大的放大倍率和更大的景深，用于观察样品表面和内部的精细结构。能量光谱仪和扫描电子显微镜的组合可用于感兴趣区域的定性和定量分析。例如，RollS器件的涂层成分，表面研磨的痕迹，过期组件的氧化程度等。也就是说，打开盖子并打开盖子意味着在保持芯片功能完整性的同时去除Ic密封胶。识别IC可以聚焦在芯片标记上，芯片标记是晶圆工厂信息的唯一标识符。扫描超声显微镜分析
在生产元器件的过程当中，虽然各种各样的电子元器件所使用的材质相同，但是若采用不同的技术和工艺，则生产出来的电子元器件在质量方面存在明显的差异，而且也会导致成本的差异，所以电子元器件价格有所不同。
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该方法是一种通过检测IC供电线路总电流来判断IC质量的方法。由于大部分IC是直接耦合的，当IC损坏时（如某pn结击穿或开路），会导致后一级饱和和截断，导致总电流发生变化。因此，测量总电流的方法可以判断IC的质量。还可以测量电源路径中电阻的压降，并使用欧姆定律计算总电流值。通常来说，一个常规的IC型号，是由字母+数字+字母组成的。这些字母、数字的背后，代表着不同的温度、参数，以及封装。举个例子，就比如你去买可乐，有瓶装，罐装，玻璃装等各种包装，IC型号后缀的参数不同，信息都是不一样的。
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D5级:无包装，属于旧货。可能被销售商重新包装 （说明:旧货，但是属于可编程器件，内置程序不可擦写） 注:D1、D2、D3、D5级在市场统称为“旧货” E1级:无包装货。可能被销售商重新包装 （说明:由原厂生产，产品质量未通过质检。本应该被销毁的，但是通过渠道流通到市场的。质量不。即“等外品”，市场统称为“次品”） E2级:无包装货。可能被销售商重新包装 （说明:将部分产品工业级别的改为军品级别的。质量很不稳定，隐患大。即“改级别”，市场统称“假货”）