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IC芯片的7种识别方法及相关知识介绍 IC芯片的7种识别方法借助光学显微镜，可以检查组件的外部和内部特征，结构分布，布等，并且可以拍摄感兴趣的信息，补充机械尺寸，并与组件和行业规格进行比较。用于检查元件的内部状态，例如芯片布、引线布和引线框架设计。当组件结构复杂时，需要调整X射线管的角度和电压以及图像的适当对比度和亮度，以获得有效的信息。为了评估组件的内部结构，需要对样品进行切割，嵌入，切割，抛光等。通常通过光学显微镜和扫描电子显微镜分析切片样品的内部结构和材料成分。
作为一个合格的采购者，对电子元器件价格都会有所研究。而现在电子元器件市场规模越来越大，但电子元器件的实际价格在现实生活当中会呈现一个比较不稳定的波动，近几年来这种波动的幅度相对较大，所以在这种情况下，很多人也关心电子元器件价格的问题
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这里值得注意的是，有时候不代表参数的型号容易被忽略掉，部分工程师只截取他认为有参数价值的型号部分，导致型号不完整，我们要多问清楚，以防出错。并且，有时会出现老型号升级后型号没有纠正过来的情况，导致新老型号一起询价的情况，重复操作导致效率降低，这一点也需要警惕。型号后缀的特点可以分为两大类，一类是可代替后缀，这是可灵活变通操作的；另外一类则为不可代替后缀，这里尤为注意AD、LT尾缀带-1、-2、-3的。
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按制作工艺分类 集成电路按制作工艺可分为半导体集成电路和薄膜集成电路。 膜集成电路又分类厚膜集成电路和薄膜集成电路。 按集成度高低分类 集成电路按规模大小分为:小规模集成电路（SSI）、中规模集成电路（MSI）、大规模集成电路（LSI）、超大规模集成电路（VLSI）、特大规模集成电路（ULSI）。 按导电类型不同分类 集成电路按导电类型可分为双型集成电路和单型集成电路。