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IC芯片的7种识别方法及相关知识介绍 IC芯片的7种识别方法借助光学显微镜，可以检查组件的外部和内部特征，结构分布，布等，并且可以拍摄感兴趣的信息，补充机械尺寸，并与组件和行业规格进行比较。用于检查元件的内部状态，例如芯片布、引线布和引线框架设计。当组件结构复杂时，需要调整X射线管的角度和电压以及图像的适当对比度和亮度，以获得有效的信息。为了评估组件的内部结构，需要对样品进行切割，嵌入，切割，抛光等。通常通过光学显微镜和扫描电子显微镜分析切片样品的内部结构和材料成分。
一个电子元器件价格发生波动的时候，基本上都和设计成本有直接性的关联，如今来看，硬件成本在设计过程当中有较好的明确，但设计成本却比较复杂。所谓设计成本涵盖着工程师的工资，也涵盖着整个设计过程当中的设备费用，场地费用，还有物料费用，这些都有相关知识产权在其中。
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基本单位有:F(法拉)、mF(毫法)、μF(微法)、nF(纳法)、pF(皮法)换算方法:1F=1000mF ，1mF=1000μF， 1μF=1000nF，1nF=1000pF；间隔都是1千倍换算关系❥(^_-)举个例子:a、采购过程中你常听到:1000μF 10V则容量为:1000μF，耐压值为10V；100uF ±20% 50V表示容值:100uF 精度:±20% 额定电压:50Vb、电路板上有很多电容，C18表示编号为18的电容
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按制作工艺分类 集成电路按制作工艺可分为半导体集成电路和薄膜集成电路。 膜集成电路又分类厚膜集成电路和薄膜集成电路。 按集成度高低分类 集成电路按规模大小分为:小规模集成电路（SSI）、中规模集成电路（MSI）、大规模集成电路（LSI）、超大规模集成电路（VLSI）、特大规模集成电路（ULSI）。 按导电类型不同分类 集成电路按导电类型可分为双型集成电路和单型集成电路。