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扫描电子显微镜和能谱分析它具有更大的放大倍率和更大的景深，用于观察样品表面和内部的精细结构。能量光谱仪和扫描电子显微镜的组合可用于感兴趣区域的定性和定量分析。例如，RollS器件的涂层成分，表面研磨的痕迹，过期组件的氧化程度等。也就是说，打开盖子并打开盖子意味着在保持芯片功能完整性的同时去除Ic密封胶。识别IC可以聚焦在芯片标记上，芯片标记是晶圆工厂信息的唯一标识符。扫描超声显微镜分析
原材料市场价格波动会导致电子元器件在制作过程当中芯片的主要材料呈现电子元器件价格波动趋势。目前来看，大多数生产厂商在进行实际订单接纳的过程当中，基本上都是通过量化生产的方式来进行生产，而原材料硬件涨价和物联网存储以及相关互联网应用的爆发有直接性关联。
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IC引脚电压受外围元件影响。当外围元件漏电、短路、开路或值可变时，或者外围电路连接到电阻可变的电位器时，电位器滑臂的位置不同，会改变引脚电压。如果ic各引脚的电压正常，一般认为ic是正常的;如果IC引脚的电压异常，应从与正常值的大偏差开始，检查外部元件是否有故障。如果没有故障，IC很可能被损坏。.对于电视机等动态接收设备，没有信号时IC各引脚的电压不同。如果发现引脚电压不变，变化较大，信号大小和可调元件位置的变化不变化，可以确定IC的损坏情况。
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回顾集成电路的发展历程，我们可以看到，自发明集成电路至今40多年以来，"从电路集成到系统集成"这句话是对IC产品从小规模集成电路（SSI）到今天特大规模集成电路（ULSI）发展过程的好总结，即整个集成电路产品的发展经历了从传统的板上系统（System-on-board）到片上系统（System-on-a-chip）的过程。在这历史过程中，世界IC产业为适应技术的发展和市场的需求，其产业结构经历了三次变革。